Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza

Valmori, Filippo (2013) Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena
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Abstract

L'attività di tesi consiste sia nella calibrazione di un banco di misura per analisi di rumore a basse frequenze nei dispositivi MOSFET di potenza, sia nella valutazione dei relativi e successivi dati sperimentali (con particolare attenzione anche ai processi di stress e recupero applicati ai dispositivi).

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di laurea (Laurea)
Autore della tesi
Valmori, Filippo
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
rumore, flicker, power, MOSFET
Data di discussione della Tesi
10 Ottobre 2013
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