Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza

Valmori, Filippo (2013) Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena
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Abstract

L'attività di tesi consiste sia nella calibrazione di un banco di misura per analisi di rumore a basse frequenze nei dispositivi MOSFET di potenza, sia nella valutazione dei relativi e successivi dati sperimentali (con particolare attenzione anche ai processi di stress e recupero applicati ai dispositivi).

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di laurea (Laurea)
Autore della tesi
Valmori, Filippo
Relatore della tesi
Fiegna, Claudio
Correlatore della tesi
Magnone, Paolo
Scuola
Ingegneria e Architettura
Corso di studio
Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
rumore, flicker, power, MOSFET
Data di discussione della Tesi
10 Ottobre 2013
URI
https://amslaurea.unibo.it/id/eprint/6009

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