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Pacifico, Giuseppe
(2018)
Analisi degli effetti di guasti transitori di memorie resistive.
[Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica [LM-DM270]
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Abstract
L'elaborato di tesi, argomenta il problema degli errori transitori nell'array di memoria ReRAM, in cui i driver sono colpiti da particelle energetiche. Viene messo in evidenza l'aumento di suscettibilità a questi errori, proporzionale all'aging dei driver. Sono mostrate simulazioni, in cui sono quantificati gli upset avvenuti nelle celle di memoria.
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