A low-cost fault tolerant technique for microcontroller-class RISC-V processors

Tedeschi, Riccardo (2023) A low-cost fault tolerant technique for microcontroller-class RISC-V processors. [Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica [LM-DM270], Documento ad accesso riservato.
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Abstract

La pervasività dei sistemi ciberfisici risponde all’esigenza di elevate prestazioni, efficienza e automazione in un numero crescente di settori. L’affidabilità di questi sistemi è un requisito fondamentale in diverse applicazioni, dove oltretutto è necessario garantire in ambienti tipicamente difficili livelli adeguati di sicurezza durante l’esecuzione in tempo reale di funzioni di rilevamento, elaborazione e comunicazione. I guasti indotti da fenomeni radiativi rappresentano un problema ben documentato e sempre più rilevante per i dispositivi elettronici, anche a livello terrestre, a causa dello scaling della tecnologia. Le tecniche tradizionali di mitigazione dei guasti sfruttano ampiamente la ridondanza spaziale, tollerando un consumo maggiore di area ed energia per aumentare la resilienza del sistema. Tuttavia, con la crescente domanda di applicazioni sempre più elaborate in diversi domini ciberfisici, vi è l’esigenza di integrare componenti progettati per il mercato consumer per sfruttarne le prestazioni ottimizzate, aprendo il problema della loro affidabilità. Questo lavoro di tesi è focalizzato sullo sviluppo e sulla valutazione di una tecnica di mitigazione dei guasti facente uso della ridondanza temporale in combinazione con quella spaziale con l’obiettivo di ridurre il consumo di area richiesto. In particolare, è stata sfruttata la duplicazione nel tempo delle istruzioni e la ridondanza modulare per il rilevamento di errori. La tecnica proposta è stata implementata sul microprocessore RISC-V a 32 bit Ibex, la cui descrizione RTL è distribuita open source dal progetto PULP. Le stime di area mostrano un incremento incluso tra il 30% e il 40% in base a vincoli temporali più o meno stringenti, tollerando tuttavia una riduzione delle prestazioni dovuta al raddoppio del numero di cicli per ogni istruzione eseguita e conseguentemente dell’efficienza energetica.

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di laurea (Laurea magistrale)
Autore della tesi
Tedeschi, Riccardo
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Indirizzo
INGEGNERIA ELETTRONICA
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
Fault tolerance,Dependability,Safety,RISC-V,Processor,Redundancy,Lockstep,Temporal
Data di discussione della Tesi
15 Settembre 2023
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