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Macrelli, Elena (2021) Performance and Robustness of low-voltage enhancement-mode GaN-based power HEMTs with p-type gate. [Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica e telecomunicazioni per l'energia [LM-DM270] - Cesena, Documento ad accesso riservato.
Mazzoli, Andrea (2021) TCAD analysis of hot-carrier-stress degradation in p-channel LDMOS power devices. [Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in Advanced automotive electronic engineering [LM-DM270], Documento full-text non disponibile