Sistemi di Regolazione dell'Alimentazione Affidabili per Processori Multi-Core

Vicini, Enrico (2019) Sistemi di Regolazione dell'Alimentazione Affidabili per Processori Multi-Core. [Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica [LM-DM270]
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Abstract

I moderni processori multi-core ad elevate prestazioni sono alimentati da regolatori di tensione integrati direttamente sul chip. Questi regolatori forniscono a ciascun power domain la tensione ottimale sulla base della sua attività, monitorata da una Power Control Unit. Questo consente da un lato di ottenere una riduzione dei consumi, dall'altro di avere un boost delle prestazioni in particolari contesti. Tali regolatori integrati sul die sono affetti da guasti e fenomeni di aging, che possono compromettere il corretto funzionamento del circuito. Questi problemi non sono tollerabili in contesti caratterizzati da esigenze di elevata reliability, come l'autonomous driving. Dunque, è stato sviluppato un monitor per rivelare on-line eventuali guasti che possono verificarsi durante il normale funzionamento sul campo. In caso di guasto il monitor è in grado di dare un'indicazione d'errore, che può essere utilizzata per attivare delle procedure di recovery. La soluzione proposta, basata su un approccio completamente differente rispetto a quello suggerito dallo standard ISO 26262, beneficia, rispetto a quest'ultima, di costi nettamente inferiori e prestazioni superiori. Il monitor può essere calibrato automaticamente per compensare le variazioni dei parametri di processo ed i fenomeni di aging che possono affliggere il monitor stesso. È stata verificata la self-checking ability del monitor rispetto a guasti di tipo transistor stuck-on, transistor stuck-open e bridging resistivo, risultando Totally Self-Checking rispetto all'insieme di guasti considerato.

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di laurea (Laurea magistrale)
Autore della tesi
Vicini, Enrico
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Indirizzo
INGEGNERIA ELETTRONICA
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
aging,reliability,monitor,guasti
Data di discussione della Tesi
19 Dicembre 2019
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