Valli, Chiara
 
(2020)
Studio del condizionamento dei wafer tramite l'applicazione di metodi distruttivi e spettroscopia Vis-NIR miniaturizzata.
[Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in 
Tecnologie alimentari [L-DM270] - Cesena, Documento full-text non disponibile
  
 
  
  
        
        
	
  
  
  
  
  
  
  
    
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      Abstract
      I wafer sono biscotti croccanti inframezzati da strati di creme e talvolta ricoperti da uno strato di cioccolato. Una delle fasi fondamentali che influenza le loro caratteristiche finali, è il condizionamento. In tale ottica l’obiettivo della tesi è stato quello di monitorare l’umidità e l’aw durante il condizionamento, in funzione della posizione di stoccaggio delle cialde in camera calda. E’ stato valutata la la possibilità di utilizzare un sensore miniaturizzato Vis-NIR, per determinare, in maniera rapida e non distruttiva, il momento ottimale di stagionatura delle cialde. I campioni sono stati condizionati a 43±2°C ed umidità relativa di 25±2 %. Per ogni tempo, sono state prelevate tre cialde per pila, in alto, nel mezzo ed in basso. Su ciascuna cialda sono state identificate tre zone di prelievo, due esterne ed una centrale. I risultati hanno messo in luce che i fogli posizionati nella parte alta della pila, mostrano un incremento di umidità ed aw indipendente dalla posizione all’interno del foglio. Ciò non accade per i fogli posizionati nella zona centrale e bassa, i quali sono caratterizzanti da andamenti simili solamente per le zone esterne. I fogli posizionati in alto raggiungono il valore ottimale di umidità dopo 30 ore, mentre i fogli che si trovano al centro della pila ed in basso, dopo 90 ore, ma solamente nelle zone laterali. Infatti alle zone centrali serviranno più di 250 ore. Per quanto riguarda i risultati relativi la spettrometria Vis-NIR, i modelli di classificazione hanno permesso di classificare correttamente il 90% dei campioni. Tramite i metodi distruttivi è possibile valutare in maniera piuttosto precisa lo stato di condizionamento delle cialde e di determinare il momento in cui il prodotto risulta essere condizionato secondo gli standard aziendali. La spettroscopia VIS-NIR, grazie alla sua semplicità di utilizzo, è risultata essere un alternativa valida per discriminare i campioni condizionati in maniera ottimale da quelli non ancora condizionati.
     
    
      Abstract
      I wafer sono biscotti croccanti inframezzati da strati di creme e talvolta ricoperti da uno strato di cioccolato. Una delle fasi fondamentali che influenza le loro caratteristiche finali, è il condizionamento. In tale ottica l’obiettivo della tesi è stato quello di monitorare l’umidità e l’aw durante il condizionamento, in funzione della posizione di stoccaggio delle cialde in camera calda. E’ stato valutata la la possibilità di utilizzare un sensore miniaturizzato Vis-NIR, per determinare, in maniera rapida e non distruttiva, il momento ottimale di stagionatura delle cialde. I campioni sono stati condizionati a 43±2°C ed umidità relativa di 25±2 %. Per ogni tempo, sono state prelevate tre cialde per pila, in alto, nel mezzo ed in basso. Su ciascuna cialda sono state identificate tre zone di prelievo, due esterne ed una centrale. I risultati hanno messo in luce che i fogli posizionati nella parte alta della pila, mostrano un incremento di umidità ed aw indipendente dalla posizione all’interno del foglio. Ciò non accade per i fogli posizionati nella zona centrale e bassa, i quali sono caratterizzanti da andamenti simili solamente per le zone esterne. I fogli posizionati in alto raggiungono il valore ottimale di umidità dopo 30 ore, mentre i fogli che si trovano al centro della pila ed in basso, dopo 90 ore, ma solamente nelle zone laterali. Infatti alle zone centrali serviranno più di 250 ore. Per quanto riguarda i risultati relativi la spettrometria Vis-NIR, i modelli di classificazione hanno permesso di classificare correttamente il 90% dei campioni. Tramite i metodi distruttivi è possibile valutare in maniera piuttosto precisa lo stato di condizionamento delle cialde e di determinare il momento in cui il prodotto risulta essere condizionato secondo gli standard aziendali. La spettroscopia VIS-NIR, grazie alla sua semplicità di utilizzo, è risultata essere un alternativa valida per discriminare i campioni condizionati in maniera ottimale da quelli non ancora condizionati.
     
  
  
    
    
      Tipologia del documento
      Tesi di laurea
(Laurea)
      
      
      
      
        
      
        
          Autore della tesi
          Valli, Chiara
          
        
      
        
          Relatore della tesi
          
          
        
      
        
          Correlatore della tesi
          
          
        
      
        
          Scuola
          
          
        
      
        
          Corso di studio
          
          
        
      
        
      
        
      
        
          Ordinamento Cds
          DM270
          
        
      
        
          Parole chiave
          wafer,condizionamento,spettroscopia NIR,umidità
          
        
      
        
          Data di discussione della Tesi
          24 Marzo 2020
          
        
      
      URI
      
      
     
   
  
    Altri metadati
    
      Tipologia del documento
      Tesi di laurea
(NON SPECIFICATO)
      
      
      
      
        
      
        
          Autore della tesi
          Valli, Chiara
          
        
      
        
          Relatore della tesi
          
          
        
      
        
          Correlatore della tesi
          
          
        
      
        
          Scuola
          
          
        
      
        
          Corso di studio
          
          
        
      
        
      
        
      
        
          Ordinamento Cds
          DM270
          
        
      
        
          Parole chiave
          wafer,condizionamento,spettroscopia NIR,umidità
          
        
      
        
          Data di discussione della Tesi
          24 Marzo 2020
          
        
      
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