Analisi dell'accumulo di carica di spazio in film sottili di polipropilene per condensatori

Nel caso di applicazioni in alta tensione continua l'accumulo di carica di spazio all'interno di materiali polimerici è un fenomeno assai frequente. Questa carica, intrappolata internamente al materiale, influenza il campo elettrico agente sul materiale isolante portandolo a valori che possono essere anche decisamente superiori da quelli ipotizzati in fase progettuale. Più il campo elettrico risulta elevato e più velocemente hanno luogo fenomeni degradativi dell'isolante e ciò semplicemente giustifica un forte interesse, non solo a livello accademico ma anche industriale, nell'analisi del fenomeno di accumulo di carica spaziale. Negli ultimi vent'anni sono state presentate molte metodologie per l'analisi della carica di spazio tra le quali una delle più interessanti e sicure (ed utilizzata per la realizzazione di questo lavoro) è quella basata sul metodo dell'impulso elettroacustico (PEA). Se l'analisi di questo fenomeno è un qualcosa di ormai assodato per campioni con spessori di centinaia di um ciò sicuramente non si può dire per provini con spessori di poche decine di um; la volontà di analizzare l'accumulo di carica in materiali isolanti così sottili è di interesse sia per le applicazioni elettroniche, le quali richiedono dispositivi possibilmente sempre più compatti e performanti, sia per la realizzazione di condensatori in film per i quali invece uno spessore minore del materiale isolante significa una capacità maggiore a parità di volume occupato. Lo scopo di questo lavoro è quello di valutare il fenomeno dell'accumulo di carica spaziale internamente a provini di polipropilene dallo spessore di 30um, in particolare si è ricercato il campo elettrico di soglia che determina l'inizio del fenomeno di accumulo sia a temperatura ambiente che a 60°C.