Implementazione di un setup sperimentale per il testing dell'affidabilita in condizioni dinamiche dei transistori GaN

L’obiettivo di questa tesi è progettare e implementare un setup per testare transistor al nitruro di gallio (GaN) in condizioni operative realistiche. Nel primo capitolo si analizza la fisica dei semiconduttori con particolare riferimento al GaN, alle tecniche di fabbricazione e alle varie tipologie di transistori GaN. Nella seconda parte viene introdotta la scheda da utilizzare per i futuri Test con particolare attenzione alla comunicazione e alla trasmissione di dati tra scheda e PC di controllo. Questo sistema assume grande rilevanza in quanto sarà integrabile con futuri modelli della scheda (LoGaN). Infine, l’elaborato si conclude con l’analisi dei segnali dei vari componenti presenti nel setup, e con la discussione di diverse soluzioni che potranno essere apportate a future versioni della scheda LoGaN.