Novel Machine-Learning Based IC Testing Strategy

Finelli, Fabrizio (2022) Novel Machine-Learning Based IC Testing Strategy. [Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica [LM-DM270], Documento full-text non disponibile
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Abstract

The final goal of the thesis should be a real-world application in the production test data environment. This includes the pre-processing of the data, building models and visualizing the results. To do this, different machine learning models, outlier prediction oriented, should be investigated using a real dataset. Finally, the different outlier prediction algorithms should be compared, and their performance discussed.

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di laurea (Laurea magistrale)
Autore della tesi
Finelli, Fabrizio
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Indirizzo
ELECTRONIC TECHNOLOGIES FOR BIG-DATA AND INTERNET OF THINGS
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
Machine Learning,Deep Learning,semiconductors,integrated circuits,testing of IC
Data di discussione della Tesi
3 Febbraio 2022
URI

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