Rivelatori diretti di raggi X basati su film sottili di [AgSePh]∞

Galeazzi, Alessandro (2021) Rivelatori diretti di raggi X basati su film sottili di [AgSePh]∞. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Fisica [L-DM270]
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Abstract

Negli ultimi anni, la ricerca di nuovi materiali semiconduttori capaci di essere utilizzati nel campo della rivelazione di radiazione ionizzante ha portato allo sviluppo di rivelatori a film sottili di perovskiti, materiali organici ed ibridi. Proprio quest’ultima tipologia di materiale verrà indagata in questa tesi e, in particolare, verranno riportate le caratterizzazioni di rivelatori di Raggi X basati su film sottili di AgSePh. Verranno discusse diverse proprietà di questi dispositivi quali la resistenza alla radiazione, allo stress meccanico e la Limit of detection, sulla base delle quali verrà poi valutata la possibilità di impiego dei campioni analizzati

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di laurea (Laurea)
Autore della tesi
Galeazzi, Alessandro
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
Raggi X,Film sottile,Materiali ibridi,Rivelatore
Data di discussione della Tesi
3 Dicembre 2021
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