Sviluppo di un sistema automatico per la caratterizzazione di fotomoltiplicatori al silicio di grande area

È stato progettato e realizzato un sistema per la caratterizzazione e l'analisi dettagliata di SiPM (Fotomoltiplicatori al Silicio). L'intero apparato sperimentale è stato disposto all'interno di una camera buia e montato su un banco ottico. Sono stati sviluppati in ambiente LabView i controlli necessari per automatizzare le scansioni dei sensori o di matrici di sensori. Sono stati infine condotti alcuni test su SiPM già caratterizzati (Hamamatsu MPPC S13360-3050PE) i quali dimostrano che il setup realizzato è in grado di risolvere l'interno dei singoli pixel del sensore, fino a dettagli nell'ordine di 5µm. Viene dimostrato dunque come sia possibile, con il sistema realizzato, studiare l'omogeneità della risposta di un sensore e eventualmente individuarne i difetti.