Realizzazione di un sistema automatico di test per rivelatori al silicio e studio preliminare di una matrice 2x2 con UFSD

Obiettivo di questo studio è quello di realizzare un programma per la caratterizzazione degli innovativi rivelatori UFSD (Ultra Fast Silicon Detectors) a disposizione della sede di Bologna dell'INFN, per poi passare all'analisi preliminare di un prototipo di matrice 2 x 2 di rivelatori dello stesso tipo. I risultati ottenuti sono stati confrontati con le caratteristiche fornite dai costruttori. Per quanto riguarda la matrice, si sono effettuate delle scansioni utilizzando una fonte laser. Si è quindi valutata la risposta del dispositivo concentrandosi sulle differenze in ampiezza dei segnali ottenuti. Nel Capitolo 1 si illustrano brevemente i principi fisici alla base del funzionamento dei rivelatori al silicio, soffermandosi principalmente su quelli caratterizzati dalla presenza di uno strato di guadagno interno. Nel Capitolo 2 viene descritto l'apparato di misura utilizzato, i rivelatori analizzati e i programmi LabVIEW che ho realizzato per effettuare le misure. Questi sono stati progettati nell'ottica di rendere rapide ed efficienti le future caratterizzazioni di UFSD o altri dispositivi a semiconduttore. I risultati ottenuti sono mostrati e analizzati nel Capitolo 3.