Gasparetto, Jacopo
(2017)
Investigation of indium tin oxide-titanium dioxide interconnection layers for perovskite-silicon tandem solar cells.
[Laurea magistrale], Università di Bologna, Corso di Studio in
Fisica [LM-DM270]
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Abstract
Per superare i limiti di efficienza delle tradizionali celle al silicio, dovuti alla termalizzazione degli elettroni generati dai fotoni solari più energetici, la comunità scientifica si è recentemente indirizzata verso la tecnologia di celle tandem monolitiche perovskite-silicio. In questo tipo di dispositivi, una cella perovskite viene depositata direttamente su di una cella etero-giunzione al silicio (SHJ) ad alta efficienza e, grazie al suo band gap, assorbe i fotoni più energetici permettendo un efficienza totale maggiore. Le celle perovskite attualmente in fase di studio presso Fraunhofer ISE possiedono un contatto posteriore formato da diossido di titanio (TiO2), mentre il contatto frontale delle celle SHJ è formato tipicamente di indium tin oxide (ITO). In questo lavoro si è studiata la fattibilità di celle solari tandem perovskite-silicio, analizzando dettagliatamente l’interfaccia ITO/TiO2 e la sua resistività. Poiché la resistenza di serie di una cella fotovoltaica, di qualunque natura, è un parametro fortemente limitate per l’efficienza di conversione, è necessario che questi layer di interconnessione abbiano una resistenza più bassa possibile per non causare perdite dovute al trasporto dei portatori di carica. Sono stati preparati campioni con formati da uno stack ITO/TiO2/ITO depositato su un substrato di silicio. Tutti i layer di ITO sono stati depositati tramite sputtering mentre sono state testate tre differenti tecniche di deposizione per il TiO2: Electron Beam Physical Vapour Deposition (EBPVD), Thermal Atomic Layer Deposition (T-ALD) e Plasma Enhanced ALD (PE-ALD). Per ogni tecnica di deposizione del TiO2 si è studiata la resistenza dei film, anche in seguito a trattamenti termici a differenti condizioni. Sono state inoltre condotte analisi di diffrazione a raggi X (XRD) e spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) per sondare la struttura cristallina e la composizione chimica dei layer di TiO2 depositati su ITO tramite le differenti tecniche.
Abstract
Per superare i limiti di efficienza delle tradizionali celle al silicio, dovuti alla termalizzazione degli elettroni generati dai fotoni solari più energetici, la comunità scientifica si è recentemente indirizzata verso la tecnologia di celle tandem monolitiche perovskite-silicio. In questo tipo di dispositivi, una cella perovskite viene depositata direttamente su di una cella etero-giunzione al silicio (SHJ) ad alta efficienza e, grazie al suo band gap, assorbe i fotoni più energetici permettendo un efficienza totale maggiore. Le celle perovskite attualmente in fase di studio presso Fraunhofer ISE possiedono un contatto posteriore formato da diossido di titanio (TiO2), mentre il contatto frontale delle celle SHJ è formato tipicamente di indium tin oxide (ITO). In questo lavoro si è studiata la fattibilità di celle solari tandem perovskite-silicio, analizzando dettagliatamente l’interfaccia ITO/TiO2 e la sua resistività. Poiché la resistenza di serie di una cella fotovoltaica, di qualunque natura, è un parametro fortemente limitate per l’efficienza di conversione, è necessario che questi layer di interconnessione abbiano una resistenza più bassa possibile per non causare perdite dovute al trasporto dei portatori di carica. Sono stati preparati campioni con formati da uno stack ITO/TiO2/ITO depositato su un substrato di silicio. Tutti i layer di ITO sono stati depositati tramite sputtering mentre sono state testate tre differenti tecniche di deposizione per il TiO2: Electron Beam Physical Vapour Deposition (EBPVD), Thermal Atomic Layer Deposition (T-ALD) e Plasma Enhanced ALD (PE-ALD). Per ogni tecnica di deposizione del TiO2 si è studiata la resistenza dei film, anche in seguito a trattamenti termici a differenti condizioni. Sono state inoltre condotte analisi di diffrazione a raggi X (XRD) e spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) per sondare la struttura cristallina e la composizione chimica dei layer di TiO2 depositati su ITO tramite le differenti tecniche.
Tipologia del documento
Tesi di laurea
(Laurea magistrale)
Autore della tesi
Gasparetto, Jacopo
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Indirizzo
Curriculum C: Fisica della materia
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
tandem solar cell,perosvkite,silicon,monolithic tandem,tio2,ito,titanium oxide,titanium dioxide,indium tin oxide,atomic layer deposition,ald,thermal ald,plasma ald,ebpvd,thin film,electron beam physical vapour deposition,interconnection layer,recombination layer
Data di discussione della Tesi
29 Settembre 2017
URI
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Tipologia del documento
Tesi di laurea
(NON SPECIFICATO)
Autore della tesi
Gasparetto, Jacopo
Relatore della tesi
Correlatore della tesi
Scuola
Corso di studio
Indirizzo
Curriculum C: Fisica della materia
Ordinamento Cds
DM270
Parole chiave
tandem solar cell,perosvkite,silicon,monolithic tandem,tio2,ito,titanium oxide,titanium dioxide,indium tin oxide,atomic layer deposition,ald,thermal ald,plasma ald,ebpvd,thin film,electron beam physical vapour deposition,interconnection layer,recombination layer
Data di discussione della Tesi
29 Settembre 2017
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